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添加时间:2019/10/8 9:12:56

  来自W.C.R.自从NTGEN在1895发现X射线以来,X射线的应用技术已经取得了很大的进展,包括X射线衍射、吸取、散射、荧光和光电子能谱(图1A)。X射线吸取边缘首先在1913年由MauricedeBroglie测量,X射线精细结构首先由Friche和Hertz在1920(X射线吸取精细结构)中发现。澳门太阳集团-太阳集团

直到20世纪70年代,萨耶斯、斯特恩和莱特尔首先通过傅里叶变换从X射线吸取谱获得了详细的结构参数,而短程有序理论(SRO)被广泛接受。随着同步辐射X射线光源的广泛应用,包括X射线吸取近边结构和X射线吸取近精细结构的图1B技术逐渐发展成为一种非常实用的结构分析方法。由于XAFS对中心吸取原子的局部结构(特别是在0.1n m范围内)及其化学环境非常敏感,可以在原子尺度上给出一个特征原子周围几个相邻配位壳层的结构信息,包括配位原子的类型及其与中心原子的距离、配位数、无序度等,广泛应用于物理、化学、材料、生物学和环境科学等领域。解决了一系列重大科知识题..

  然而,由于XAFS技术通常依赖于同步辐射X射线源,它不像其他设施那样容易被公众访问,极大地限制了XAFS技术在各个领域的广泛应用。近年来,台式机XAFS光谱仪的出现使得利用技术分析材料的精细结构成为可能。2013年第一台实验室用台式XAFS谱仪诞生于美国华盛顿大学物理系Gerald T. Seidler教授课题组,并于2015年成立了easyXAFS企业,致力于实验室用台式XAFS谱仪在全球的推广和应用。桌面XAFS光谱仪采用独特的X射线单色器设计。它可以在不使用同步辐射源的情况下测量和分析常规实验室环境下x射线吸取的精细结构。由于光源具有极高的灵敏度和质量,获得了与同步辐射水平相当的x射线吸取谱图。实现了元素、价态分析和配位键的定性定量分析。结构分析等。


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